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设备简介:

       英国Bede公司的D1型高分辨X射线衍射仪,可以进行Omega-2Theta连动扫描、摇摆曲线、均匀性分析、极图或Phi轴扫描、倒易空间(RSM)、反射率等;主要用于分析材料的结晶质量、组分、周期厚度以及应力分布等。

 

主要技术指标:

1、高分辨XRD,三轴XRD,掠入射及小角X光衍射和反射,织构应力分析等;

2、强大的模拟分析软件,优异的操作软件;

3PC控制光路调整调协,自动化程度高; 

 1)样品轴范围:235°,分辨率:0.00005°

 2)探测器轴范围:205°,分辨率:0.00005°

 3)样品XYZ范围:150×150mm/9mm,分辨率5um

 4)样品倾动(chi)135°,分辨率:0.003°

 5)样品旋转(phi):正负360°,分辨率:0.004°

        

 

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