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设备简介:

厂商:台湾致茂电子股份有限公司

型号:Chroma58173

 

工作原理:

利用恒流源或恒压源对有电极的管芯进行测试,并利用CCD等对光新号进行捕捉,得到I-V对应关系,及相应的光功率、波长等。

 

技术指标:

1.自动化LED wafer/chip点测设备、漏电流测试单元和光学测试模组;

2.可测量大功率和小功率LED芯片I-V特性、正向电压、光功率、反向漏电、反向电压、峰值波长、主波长、ESD等基本的LED光电性能参数;

3.高压恒流电压,电压范围可达200V

4.半自动Chroma大面积光探测器(量测角度可达128)

 

工艺特点:

1.特制Edge Sensor具有点测针压稳定,没有针压变动问题,精度高

机械视觉定位系统,缩短人工操作时间

2.自动抽测功能

3.快速芯片扫描系统

4.具有遮光罩,避免背景光干扰,信噪比高

5.实时显示点测数据分布

6.完善的量产测试统计报表和分析工具

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