英国EI公司的FLS920稳态/瞬态荧光光谱仪可以在190nm—800nm范围内完成各种稳态和瞬态测试，诸如：稳态测量、激激发光谱(荧/磷光强度~激发波长)、发射光谱(荧/磷光强度~发射波长)、同步扫描谱(固定波长差、固定能量差、可变角)。瞬态测量：荧光(磷光)寿命(100ps—10s)等，同时还可测量同步、偏振、寿命、各向异性衰减、温度依赖的光谱特性、3D稳态、3D瞬态等，其中的各项瞬态光谱测试范围为100ps-10s。主要用于半导体材料的发光特性以及缺陷研究。

主要技术指标：

1、光谱仪探测范围：（光电倍增管，190～870nm）；

2、荧光寿命测量范围：100ps～10s，信噪比：6000：1（水峰 Raman）；

3、可以配用制冷系统，为样品提供变温环境（4K～700K）；

4、使用Glan棱镜，控制激发光路、发射光路的偏振状态；

5、使用266nmLaser、 325nmLaser、 375nmLaser 、405nmLaser、450W氙灯、纳秒、微秒脉冲闪光灯做激发光源；

6、F900系统软件：控制硬件，包括变温系统，数据采集、分析；

7、配合显微镜实现微区PL测试。